北京卓立漢光儀器有限公司將于2022年12月27日在上海舉辦“卓立造，中國芯"——2023年度新品發布會，屆時將為大家解鎖多款卓立漢光公司自主研發的新產品和解決方案，包括匠心打造的高精度“精工"系列光機/激光產品，微觀時空分辨的飛秒瞬態吸收成像系統/顯微熒光壽命成像系統/瞬態光電流與光電壓分析系統，以及針對半導體行業和在線檢測的解決方案。

精彩敬請期待。

發布會亮點搶先看

HXP系列六軸并聯機器人：揭秘全自由度運動

高精度、高集成度、高效率的全自由度運動，適合于空間精密對位，微小器件加工和裝配，光通信器件調芯，晶片檢驗等應用

納米壓電位移臺：納米至亞納米量級的高精度運動控制

可選控制方式為線性，旋轉，擺角，掃描。最小單步步長可達10nm，使用20kHz超聲頻段驅動，無刺耳運動噪聲。全系產品均可提供超高真空兼容版本以及無磁版本以滿足特殊工況要求。

TBR57電動旋轉臺：無懼工況復雜、高耐用性要求的自動化生產線

導向機構采用精密交叉滾柱軸環，負載能力強、耐用性好，可水平、豎直、倒置使用；調隙機構設計，有效較小背隙。高耐磨性、高硬度，內置零位傳感器，使用方便。

TPR氣浮隔振& DRN阻尼隔振光學平臺: 為精密光學實驗隔振護航

TPR氣浮隔振平臺，使用了三線擺+層流阻尼技術，對水平和豎直方向的震動有非常好的隔振效果，技術先進，性能佳。5Hz隔振效率高達85%。

DRN阻尼隔振光學平臺，采用雙頻阻尼隔振機構配合低固有頻率材料，使整體固有頻率降低到9Hz以下，為精密光學實驗提供穩定且隔振的實驗平臺。

焦斑分析儀&采樣衰減模塊: 無需繁瑣光路調試，助力高精度微納加工

焦斑分析儀采用高機械精度一體化設計，整體光軸偏移控制在0.5°以內，可校準的放大率，三種貼心安裝方式，靈活可拆分的鏡頭和部件，滿足客戶個性化的需求。

采樣衰減模塊采用較高機械精度固定部分自由度，幫助客戶提高光路的可重復性，更加容易調出兩套比較一致的衰減系統。衰減值切換，模塊組合、系統集成的便利性，可為客戶節約大量成本、時間和精力。

Omni-TAM900寬場飛秒瞬態吸收成像系統: 看見載流子的運動

集成像和動力學于一體，聯合飛秒泵浦-探測技術和顯微技術，通過自主知識產權的干涉放大技術增強圖像信噪比，可獲得高質量的成像效果并大幅度縮短測試時間。高靈敏、高通量，可測量到單個納米顆粒、單層石墨烯乃至單層分子晶體的瞬態吸收信號。

顯微熒光壽命成像系統：基于光譜儀搭建，Mapping更輕松

基于高靈敏度時間相關單光子計數TCSPC設計，聯合科研級正置顯微鏡和光譜儀，FL Mapping和Lifetime Mapping 無縫切換。定位精度<1um，多類型激光器可選，內部光學元件可以支持多路激光耦合。

TPV/TPV分析系統: 光電器件動力學過程解析利器

光電測試系統針對光電器件動力學分析新開發的功能，可得到光生電流的響應時間，如上升/下降時間，瞬態光電流與瞬態光電壓曲線。從而可以分析光電器件內部的動力學過程，如載流子的遷移率、載流子的壽命、載流子的擴散長度等。

SPM 系列半導體測試方案：專為半導體測試應用而生

SPM300系列半導體參數測試儀/SPM600系列半導體參數分析儀/SPM900系列少子壽命成像測試儀，面向半導體行業推出的專用機型，可進行載流子濃度表征、應力分析、雜質 /缺陷分析、載流子壽命分析、光電測試分析等

在線LIBS+PLIF解決方案：原位實時檢測，快速定性定量

激光誘導擊穿光譜（LIBS）利用脈沖激光激發出所含物質的對應譜線進行含量成分分析。其優點在于快速，簡單，不受樣品性狀影響，并且既可以定性分析，又可以進一步進行定量分析。

片光源激光誘導熒光（PLIF）是利用將激光整形成厚約幾毫米的片光源激發燃燒場獲得燃燒場中化學成分的發射光譜，例如氧原子，氮原子，OH鍵，CH鍵等。通過在線監測軟件，可以很直觀的獲得燃燒場的溫度分布等參數信息。